硬件獨特性:雙屏顯示設計，造型時尚專業(yè)，帶多節(jié)點預啟動裝置和實時監(jiān)控系統(tǒng)；已集成計算機，無需再外接電腦，計算機采用觸屏設計，操作流暢便捷；加裝自動防輻射泄漏裝置，主動性的保證使用人員安全；內置打印機，計算報告方便快捷；獨具短信報錯功能，操作是否符合規(guī)范一目了然；超高的分辨率可輕松解決貴金屬行業(yè)無損分析的任何復雜要求，為貴金屬行業(yè)性價比最好的頂級光譜儀。 廠家總負責人 周艷 13682384615 軟件優(yōu)越性：XRF8.0菜單式軟件，帶硬件參數(shù)調整和數(shù)據評估及計算系統(tǒng)；軟件除能顯示金屬百分比純度外，亦可顯示黃金K值；軟件可自動重復檢測，自動測算多次檢測的均值；獨具全局故障判斷功能；計算報告的打印格式多樣化，完全滿足客戶各種形式的打印要求。 激發(fā)源：Mo靶的X光管 風冷 (無輻射） 探測器：Si-PIN 探測器 (美國進口) 145Kev ± 5 高壓裝置：0?50KV 其它規(guī)格： 電壓：交流220V/50Hz 最大功率:144W 最大處尺寸:650mm*450mm*340mm 重量:32kg 技術指標： 分析范圍：0.001% ～ 99.999% 測量時間：自適應 測量精度：± 10ppm ～ 0.1% 分辨率 ：145Kev ± 5 測試環(huán)境：常溫常態(tài) 分析元素：除貴金屬常含元素和銥、鋨等鉑族重金屬能全面測試外，該型號還能對從Na至U的70多種元素進行分析，實為貴金屬行業(yè)常量分析中的實驗室級光譜儀。 X射線源：X射線光管 高壓器：0～50Kv 操作系統(tǒng):Windows2000/Me/XP 鍍層測量： 鍍層厚度范圍<30μm 最大測量層數(shù)：5層 測量精度：0.03μm